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「探索的テスト」でテスト経験を最大限に活かそう

探索的テストのデメリットを克服するには? 対策事例を紹介

「探索的テスト」でテスト経験を最大限に活かそう 第2回

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この記事の著者

高木 陽平(VALTES ADVANCED TECHNOLOGY INC.)(タカギ ヨウヘイ)

  東京理科大学大学院 技術経営修士(MOT)卒業。バルテスのフィリピン子会社であるVALTES ADVANCED TECHNOLOGY INC.の取締役。今まで、多数のソフトウェアテストやテストプロセス改善の業務に従事。大学でソフトウェア工学の研究室に入り、プロセス改善を研究。そのこともあり、CM...

※プロフィールは、執筆時点、または直近の記事の寄稿時点での内容です

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https://codezine.jp/article/detail/14185 2021/05/31 11:00

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