「テストプロセス改善」をしてバグを削減しよう ソフトウェアの「バグをなくせ」と言われたら? テストプロセス改善でバグを削減しよう【方法論を解説】 「テストプロセス改善」をしてバグを削減しよう 第1回 技術記事 テスト・品質 事例 印刷用を表示 ツイート 高木 陽平(VALTES ADVANCED TECHNOLOGY INC.)[著] 2021/09/14 11:00 目次 Page1 対象読者 はじめに テストプロセス改善とは? テストプロセス改善の分類 Page2 モデルベースドアプローチ(Model-based Approaches)(1) Page3 モデルベースドアプローチ(Model-based Approaches)(2) Page4 分析的アプローチ (Analytical Approaches) 原因分析 (Causal Analysis) まとめ ※この続きは、会員の方のみお読みいただけます(登録無料)。 会員登録(無料) ログインはこちら <<前へ 1 2 3 4 連載通知を行うには会員登録(無料)が必要です。 既に会員の方はログインを行ってください。 バックナンバー 印刷用を表示 ツイート バックナンバー 連載:「テストプロセス改善」をしてバグを削減しよう テストプロセス改善で93件あった市場バグが10件に! ソフトウェアのバグを削減しよう【実践... テストプロセス改善にはどんなメリットが? 課題を低減するためのヒントをテスト専門企業が伝... ソフトウェアの「バグをなくせ」と言われたら? テストプロセス改善でバグを削減しよう【方法論... 著者プロフィール 高木 陽平(VALTES ADVANCED TECHNOLOGY INC.)(タカギ ヨウヘイ) 東京理科大学大学院 技術経営修士(MOT)卒業。バルテスのフィリピン子会社であるVALTES ADVANCED TECHNOLOGY INC.の取締役。今まで、多数のソフトウェアテストやテストプロセス改善の業務に従事。大学でソフトウェア工学の研究室に入り、プロセス改善を研究。そのこともあり、CM... ※プロフィールは、執筆時点、または直近の記事の寄稿時点での内容です Article copyright © 2021 Takagi Youhei, Shoeisha Co., Ltd. あなたにオススメ × ログイン Eメール パスワード ※旧SEメンバーシップ会員の方は、同じ登録情報(Eメール&パスワード)でログインいただけます。 × ブックマークを利用するにはログインが必要です 会員登録(無料) ログインはこちら All contents copyright © 2005-2022 Shoeisha Co., Ltd. All rights reserved. ver.1.5